{"id":176,"identifier":"DVUA/NAKRQP","persistentUrl":"https://doi.org/10.48788/DVUA/NAKRQP","protocol":"doi","authority":"10.48788","publisher":"DataverseUA","publicationDate":"2024-11-13","storageIdentifier":"local://10.48788/DVUA/NAKRQP","datasetVersion":{"id":47,"datasetId":176,"datasetPersistentId":"doi:10.48788/DVUA/NAKRQP","storageIdentifier":"local://10.48788/DVUA/NAKRQP","versionNumber":2,"versionMinorNumber":1,"versionState":"RELEASED","lastUpdateTime":"2025-10-07T05:45:44Z","releaseTime":"2025-10-07T05:45:44Z","createTime":"2025-10-03T16:57:39Z","publicationDate":"2024-11-13","citationDate":"2024-11-13","license":{"name":"CC0 1.0","uri":"http://creativecommons.org/publicdomain/zero/1.0","iconUri":"https://licensebuttons.net/p/zero/1.0/88x31.png"},"fileAccessRequest":true,"metadataBlocks":{"citation":{"displayName":"Citation Metadata","name":"citation","fields":[{"typeName":"title","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Рентгенівська дифракція від наночастинок Cu₂MgₓZn₁₋ₓSnS₄"},{"typeName":"author","multiple":true,"typeClass":"compound","value":[{"authorName":{"typeName":"authorName","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Бойко Богдан Русланович"},"authorAffiliation":{"typeName":"authorAffiliation","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Сумський державний університет"},"authorIdentifierScheme":{"typeName":"authorIdentifierScheme","multiple":false,"typeClass":"controlledVocabulary","value":"ORCID"},"authorIdentifier":{"typeName":"authorIdentifier","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"0009-0007-9359-1004"}},{"authorName":{"typeName":"authorName","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Єрмаков Максим Сергійович"},"authorAffiliation":{"typeName":"authorAffiliation","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Сумський державний університет"},"authorIdentifierScheme":{"typeName":"authorIdentifierScheme","multiple":false,"typeClass":"controlledVocabulary","value":"ORCID"},"authorIdentifier":{"typeName":"authorIdentifier","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"0000-0003-1170-6415"}},{"authorName":{"typeName":"authorName","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Васильєв Віталій Романович"},"authorAffiliation":{"typeName":"authorAffiliation","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Сумський державний університет"},"authorIdentifierScheme":{"typeName":"authorIdentifierScheme","multiple":false,"typeClass":"controlledVocabulary","value":"ORCID"},"authorIdentifier":{"typeName":"authorIdentifier","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"0000-0002-4601-856X"}},{"authorName":{"typeName":"authorName","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Пшеничний Роман Миколайович"},"authorAffiliation":{"typeName":"authorAffiliation","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Сумський державний університет"},"authorIdentifierScheme":{"typeName":"authorIdentifierScheme","multiple":false,"typeClass":"controlledVocabulary","value":"ORCID"},"authorIdentifier":{"typeName":"authorIdentifier","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"0000-0002-2560-9379"}},{"authorName":{"typeName":"authorName","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Д’яченко Олексій Вікторович"},"authorAffiliation":{"typeName":"authorAffiliation","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Сумський державний університет"},"authorIdentifierScheme":{"typeName":"authorIdentifierScheme","multiple":false,"typeClass":"controlledVocabulary","value":"ORCID"},"authorIdentifier":{"typeName":"authorIdentifier","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"0000-0003-2312-5255"}},{"authorName":{"typeName":"authorName","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Гриненко Віталій Вікторович"},"authorAffiliation":{"typeName":"authorAffiliation","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Сумський державний університет"},"authorIdentifierScheme":{"typeName":"authorIdentifierScheme","multiple":false,"typeClass":"controlledVocabulary","value":"ORCID"},"authorIdentifier":{"typeName":"authorIdentifier","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"0000-0003-4039-7877"}}]},{"typeName":"datasetContact","multiple":true,"typeClass":"compound","value":[{"datasetContactName":{"typeName":"datasetContactName","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Д’яченко Олексій Вікторович"},"datasetContactAffiliation":{"typeName":"datasetContactAffiliation","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Сумський державний університет"},"datasetContactEmail":{"typeName":"datasetContactEmail","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"a.dyachenko@ekt.sumdu.edu.ua"}}]},{"typeName":"dsDescription","multiple":true,"typeClass":"compound","value":[{"dsDescriptionValue":{"typeName":"dsDescriptionValue","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Наночастинки CZMTS синтезовані методом поліольного синтезу в інертній атмосфері аргону в лабораторних умовах. Отримані зразки передано для дослідження до Центру колективного користування науковим обладнанням «Лабораторія матеріалознавства геліоенергетичних, сенсорних та наноелектронних систем» для аналізу на рентгенівському дифрактометрі ДРОН-4-07. Результати було отримано електронною поштою."},"dsDescriptionDate":{"typeName":"dsDescriptionDate","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"2024-05-02"}}]},{"typeName":"subject","multiple":true,"typeClass":"controlledVocabulary","value":["Physics"]},{"typeName":"keyword","multiple":true,"typeClass":"compound","value":[{"keywordValue":{"typeName":"keywordValue","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"polyol synthesis"}},{"keywordValue":{"typeName":"keywordValue","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"doping"}},{"keywordValue":{"typeName":"keywordValue","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"nanoparticles"}},{"keywordValue":{"typeName":"keywordValue","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"structure"}},{"keywordValue":{"typeName":"keywordValue","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"optical characteristics"}}]},{"typeName":"notesText","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"XRD (X-ray Diffraction) — рентгенівська дифракція, CZMTS - Cu2MgZnSnS4, НЧ - наночастинки."},{"typeName":"grantNumber","multiple":true,"typeClass":"compound","value":[{"grantNumberAgency":{"typeName":"grantNumberAgency","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Міністерство освіти і науки України"},"grantNumberValue":{"typeName":"grantNumberValue","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"0124U000541"}}]},{"typeName":"depositor","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"Бойко Богдан Русланович"},{"typeName":"dateOfDeposit","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"2024-11-13"},{"typeName":"kindOfData","multiple":true,"typeClass":"primitive","value":["Plain Text"]},{"typeName":"software","multiple":true,"typeClass":"compound","value":[{"softwareName":{"typeName":"softwareName","multiple":false,"typeClass":"primitive","value":"HighScore Plus"}}]}]},"journal":{"displayName":"Journal Metadata","name":"journal","fields":[]}},"files":[{"description":"Містить дані XRD, отримані від НЧ Cu2ZnSnS4. В першій колонці наведено діапазоні кутів Брегга (2θ) від 20° до 80° з кроком 0,05°, а друга колонка - інтенсивність випромінення.","label":"1_CZTS_Mg_0.txt","restricted":false,"version":1,"datasetVersionId":47,"dataFile":{"id":185,"persistentId":"doi:10.48788/DVUA/NAKRQP/ONRHEM","pidURL":"https://doi.org/10.48788/DVUA/NAKRQP/ONRHEM","filename":"1_CZTS_Mg_0.txt","contentType":"text/plain","friendlyType":"Plain Text","filesize":21618,"description":"Містить дані XRD, отримані від НЧ Cu2ZnSnS4. В першій колонці наведено діапазоні кутів Брегга (2θ) від 20° до 80° з кроком 0,05°, а друга колонка - інтенсивність випромінення.","storageIdentifier":"local://193249e2e7c-a9af1e70161c","rootDataFileId":-1,"md5":"4c25c238892ef611335b886ccd72bb2d","checksum":{"type":"MD5","value":"4c25c238892ef611335b886ccd72bb2d"},"tabularData":false,"creationDate":"2024-11-13","publicationDate":"2024-11-13","fileAccessRequest":true}},{"description":"Містить дані XRD, отримані від НЧ Cu2Mg0.1Zn0.9SnS4. В першій колонці наведено діапазоні кутів Брегга (2θ) від 20° до 80° з кроком 0,05°, а друга колонка - інтенсивність випромінення.","label":"2_CZTS_Mg_10.txt","restricted":false,"version":1,"datasetVersionId":47,"dataFile":{"id":181,"persistentId":"doi:10.48788/DVUA/NAKRQP/HCSTP1","pidURL":"https://doi.org/10.48788/DVUA/NAKRQP/HCSTP1","filename":"2_CZTS_Mg_10.txt","contentType":"text/plain","friendlyType":"Plain Text","filesize":21618,"description":"Містить дані XRD, отримані від НЧ Cu2Mg0.1Zn0.9SnS4. В першій колонці наведено діапазоні кутів Брегга (2θ) від 20° до 80° з кроком 0,05°, а друга колонка - інтенсивність випромінення.","storageIdentifier":"local://193249e3140-89ab9b58bc6b","rootDataFileId":-1,"md5":"989d37574c3ed9bcd01d36d55033c207","checksum":{"type":"MD5","value":"989d37574c3ed9bcd01d36d55033c207"},"tabularData":false,"creationDate":"2024-11-13","publicationDate":"2024-11-13","fileAccessRequest":true}},{"description":"Містить дані XRD, отримані від НЧ Cu2Mg0.2Zn0.8SnS4. В першій колонці наведено діапазоні кутів Брегга (2θ) від 20° до 80° з кроком 0,05°, а друга колонка - інтенсивність випромінення.","label":"3_CZTS_Mg_20.txt","restricted":false,"version":1,"datasetVersionId":47,"dataFile":{"id":178,"persistentId":"doi:10.48788/DVUA/NAKRQP/ESQ4SJ","pidURL":"https://doi.org/10.48788/DVUA/NAKRQP/ESQ4SJ","filename":"3_CZTS_Mg_20.txt","contentType":"text/plain","friendlyType":"Plain Text","filesize":21618,"description":"Містить дані XRD, отримані від НЧ Cu2Mg0.2Zn0.8SnS4. В першій колонці наведено діапазоні кутів Брегга (2θ) від 20° до 80° з кроком 0,05°, а друга колонка - інтенсивність випромінення.","storageIdentifier":"local://193249e391a-617528265cb8","rootDataFileId":-1,"md5":"ab49b258bb97c1b5cadb41566a15a777","checksum":{"type":"MD5","value":"ab49b258bb97c1b5cadb41566a15a777"},"tabularData":false,"creationDate":"2024-11-13","publicationDate":"2024-11-13","fileAccessRequest":true}},{"description":"Містить дані XRD, отримані від НЧ Cu2Mg0.3Zn0.7SnS4. В першій колонці наведено діапазоні кутів Брегга (2θ) від 20° до 80° з кроком 0,05°, а друга колонка - інтенсивність випромінення.","label":"4_CZTS_Mg_30.txt","restricted":false,"version":1,"datasetVersionId":47,"dataFile":{"id":184,"persistentId":"doi:10.48788/DVUA/NAKRQP/LIXUIH","pidURL":"https://doi.org/10.48788/DVUA/NAKRQP/LIXUIH","filename":"4_CZTS_Mg_30.txt","contentType":"text/plain","friendlyType":"Plain Text","filesize":21618,"description":"Містить дані XRD, отримані від НЧ Cu2Mg0.3Zn0.7SnS4. В першій колонці наведено діапазоні кутів Брегга (2θ) від 20° до 80° з кроком 0,05°, а друга колонка - інтенсивність випромінення.","storageIdentifier":"local://193249e4923-c9eed706ead2","rootDataFileId":-1,"md5":"778f99ffa6160b9490c30f88e14e186f","checksum":{"type":"MD5","value":"778f99ffa6160b9490c30f88e14e186f"},"tabularData":false,"creationDate":"2024-11-13","publicationDate":"2024-11-13","fileAccessRequest":true}},{"description":"Містить дані XRD, отримані від НЧ Cu2Mg0.4Zn0.6SnS4. В першій колонці наведено діапазоні кутів Брегга (2θ) від 20° до 80° з кроком 0,05°, а друга колонка - інтенсивність випромінення.","label":"5_CZTS_Mg_40.txt","restricted":false,"version":1,"datasetVersionId":47,"dataFile":{"id":179,"persistentId":"doi:10.48788/DVUA/NAKRQP/LVR1NX","pidURL":"https://doi.org/10.48788/DVUA/NAKRQP/LVR1NX","filename":"5_CZTS_Mg_40.txt","contentType":"text/plain","friendlyType":"Plain Text","filesize":21618,"description":"Містить дані XRD, отримані від НЧ Cu2Mg0.4Zn0.6SnS4. В першій колонці наведено діапазоні кутів Брегга (2θ) від 20° до 80° з кроком 0,05°, а друга колонка - інтенсивність випромінення.","storageIdentifier":"local://193249e4efd-07d0d90e37df","rootDataFileId":-1,"md5":"52f11a93997493b66ee1962a2cfde42d","checksum":{"type":"MD5","value":"52f11a93997493b66ee1962a2cfde42d"},"tabularData":false,"creationDate":"2024-11-13","publicationDate":"2024-11-13","fileAccessRequest":true}},{"description":"істить дані XRD, отримані від НЧ Cu2Mg0.5Zn0.5SnS4. В першій колонці наведено діапазоні кутів Брегга (2θ) від 20° до 80° з кроком 0,05°, а друга колонка - інтенсивність випромінення.","label":"6_CZTS_Mg_50.txt","restricted":false,"version":1,"datasetVersionId":47,"dataFile":{"id":180,"persistentId":"doi:10.48788/DVUA/NAKRQP/TQUKIL","pidURL":"https://doi.org/10.48788/DVUA/NAKRQP/TQUKIL","filename":"6_CZTS_Mg_50.txt","contentType":"text/plain","friendlyType":"Plain Text","filesize":21618,"description":"істить дані XRD, отримані від НЧ Cu2Mg0.5Zn0.5SnS4. В першій колонці наведено діапазоні кутів Брегга (2θ) від 20° до 80° з кроком 0,05°, а друга колонка - інтенсивність випромінення.","storageIdentifier":"local://193249e5263-1bbbdb0c7428","rootDataFileId":-1,"md5":"7b713c52d368a1c657d074eac5d27a1d","checksum":{"type":"MD5","value":"7b713c52d368a1c657d074eac5d27a1d"},"tabularData":false,"creationDate":"2024-11-13","publicationDate":"2024-11-13","fileAccessRequest":true}},{"description":"Містить дані XRD, отримані від НЧ Cu2Mg0.6Zn0.4SnS4. В першій колонці наведено діапазоні кутів Брегга (2θ) від 20° до 80° з кроком 0,05°, а друга колонка - інтенсивність випромінення.","label":"7_CZTS_Mg_60.txt","restricted":false,"version":1,"datasetVersionId":47,"dataFile":{"id":182,"persistentId":"doi:10.48788/DVUA/NAKRQP/N8ZEHO","pidURL":"https://doi.org/10.48788/DVUA/NAKRQP/N8ZEHO","filename":"7_CZTS_Mg_60.txt","contentType":"text/plain","friendlyType":"Plain Text","filesize":21618,"description":"Містить дані XRD, отримані від НЧ Cu2Mg0.6Zn0.4SnS4. В першій колонці наведено діапазоні кутів Брегга (2θ) від 20° до 80° з кроком 0,05°, а друга колонка - інтенсивність випромінення.","storageIdentifier":"local://193249e56a0-dca5afe490bc","rootDataFileId":-1,"md5":"065d784c2fb075499e73ea843db695b2","checksum":{"type":"MD5","value":"065d784c2fb075499e73ea843db695b2"},"tabularData":false,"creationDate":"2024-11-13","publicationDate":"2024-11-13","fileAccessRequest":true}},{"label":"ReadMe_SumDU_Grant № 0124U000541.txt","restricted":false,"version":1,"datasetVersionId":47,"dataFile":{"id":190,"persistentId":"doi:10.48788/DVUA/NAKRQP/HUFIPR","pidURL":"https://doi.org/10.48788/DVUA/NAKRQP/HUFIPR","filename":"ReadMe_SumDU_Grant № 0124U000541.txt","contentType":"text/plain","friendlyType":"Plain Text","filesize":8748,"storageIdentifier":"local://1932bdbccb3-1bed5d6e0022","rootDataFileId":177,"previousDataFileId":177,"md5":"17084c1cf2c2fac984f00c4dff2f8d56","checksum":{"type":"MD5","value":"17084c1cf2c2fac984f00c4dff2f8d56"},"tabularData":false,"creationDate":"2024-11-14","publicationDate":"2024-11-15","fileAccessRequest":true}},{"description":"Містить дифрактограми, побудовані на одному графіку разом з еталонними даними (JCPDS №01-075-4122). Файл включає таблицю (Book1) з XRD-даними та XRD-графік (Graph1) для всіх зразків.","label":"XRD_CZTS_Mg_NP.opj","restricted":false,"version":1,"datasetVersionId":47,"dataFile":{"id":183,"persistentId":"doi:10.48788/DVUA/NAKRQP/XJLOEM","pidURL":"https://doi.org/10.48788/DVUA/NAKRQP/XJLOEM","filename":"XRD_CZTS_Mg_NP.opj","contentType":"application/octet-stream","friendlyType":"Unknown","filesize":317683,"description":"Містить дифрактограми, побудовані на одному графіку разом з еталонними даними (JCPDS №01-075-4122). Файл включає таблицю (Book1) з XRD-даними та XRD-графік (Graph1) для всіх зразків.","storageIdentifier":"local://193249f1fae-fca069791d0b","rootDataFileId":-1,"md5":"8368d270cfa6c92f4c08a394e70d7d59","checksum":{"type":"MD5","value":"8368d270cfa6c92f4c08a394e70d7d59"},"tabularData":false,"creationDate":"2024-11-13","publicationDate":"2024-11-13","fileAccessRequest":true}}],"citation":"Бойко Богдан Русланович; Єрмаков Максим Сергійович; Васильєв Віталій Романович; Пшеничний Роман Миколайович; Д’яченко Олексій Вікторович; Гриненко Віталій Вікторович, 2024, \"Рентгенівська дифракція від наночастинок Cu₂MgₓZn₁₋ₓSnS₄\", https://doi.org/10.48788/DVUA/NAKRQP, DataverseUA, V2"}}